SJT 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
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ID： |
6D0192A8C0254877A1A3C526919545F0 |
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文件大小(MB)： |
0.92 |
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页数： |
16 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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12tl J 人民共和国国家标准,GB 6793 —86,降为 SJ/T 10800-96,ZtIt 住成接口电路,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,for semiconductor interface integrated circuits,1 986 08 28 发布1 987 07 01 实施,毒,国宸ス示准局批准,中华人民共和国国家标准,半导体集成接口电路,读出放大器测试方法的基本原理,UDC 621.3.049,.774：?21.317,.08,GB 6793—86,General principles of measuring methods,of sence amplifiers for semicdndsctor,interface integrated circuits,本标准规定了半导体集成接口电路读円放大器（以下简称器件）静态特性和动态特性测试方法的,基本原理,若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑,总的要求,1.1 若无特殊说明.测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定〇,1.2 测试期间,应避免外界十扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,的规定,13测试期间,施于被测器件的电源电压误差应在规定值的± 1 %以内，施于被测器件的其他电参,量的精度应符合器件详细规范的规定,1丒4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,1.5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外,在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能测,试,1.6 被测器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期,2管态特性测试,2.1 差分输入阚值电压匕r,2.1.1 定义,在规定的参考电压下,使输出端为高电平电压或低电平电压时,差分输入端所施加的阈值电压,2丒1丒2测试原理图,Pt的测试原理图如图!所示,乙 C * CC,被渕器件,制入网络,f,-,-,(,V-),た,国家标准局1986ー。8 - 28发布1987-07-0I 实施,1,GB 8793—86,2.1.8测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详聊蒞的規愿,a,b,e,环境温度アa ,电源电压匕:C+、匕:C7,参考电压ペref；,输入端施加的电压,输出端负载电流，0H、ルい,4测试程序,2,2,2,2,2,2,1,1,在规定的环境温度Ta下,将被测器件接入测试系统中,苣源端施加规定的电岸&： +紋慎、”,聚考通道输入端继糧的参考电压匕“,非被测差分输入端接地，其余输入端施加规定的电压,输出端抽出（注入）规定的负载电流，。H（/OL八,调节被测差分输入端输入电压，使输出端电平为匕阳《ゼ矶3该输入电压即为ダエ,2ハ丒4.7 按本标准第2.1,4.3~2.1丒4.6项规定，分别测试每对差分输入辘目,2.2共模输入启动电压匕cf,2.2.1定义,在规定的参考电压下,超过输入动态范围并引起输出逻辑转换的最小共模输入电压,2.2エ测试原理图,匕CF 的测试原理图如图2所示,2.2.8测读条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定I,a.环境温度Ta委,M电源电压匕:c+,汽）；,C.参考电压Pre”,ム输入端施加的电压.,2.2.4测试程序,2.2.4J 在规定的环境温度Ta下,将被测器件接入测试系统中,2丒2.4.2电源端施加规定的电压ダcc +和Kx r,2,i,GB 6793—ti,参考通道输入端施加规定的参考电压,2,2,2,2,2,2,2.4.4,2.4.5,2.4.6,2.4.7,非被测差分输入端接地;其余输入端施加规定的电压,输出端开路,调节被测差分输入端输入共模电压,使输出逻辑电平临界转换,该输入电压即为匕C F 〇,按本标准第2、2.4丒442,2丒4.6顼规定,分别测试每对差分输入端,8输出高电平电压匕）H,8.I定义,输入端在施加规定的电平下，使输出端为高电平时的电压6,2.8.2测试原理图,げ〇 H的测试原理图如图3所示,+ ダCC E,2.8.8测试条件,2,2,22,2,2,2,2,被测器件,图3,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a,b,3,3,3,3,33,3,环境温度扌,电源电压片CC +、たC,参考电压/re f ,差分输入端施加的电压キ,输入端施加的电平キ,输出端负载电流人＞H,4测试程序,4.2,4.3,3.4.7,在规定的环境温度7a下，将被测器件接入测试系统中,电源端施加规定的电压匕:C+利％C ”,参考通道输入端施加规定的参考电压ゼ,差分输入端和输入端施加规定的电压和电平,被测输出端抽出规定的负载电流あH，其余输出端开路,在被测输出端测得，。H,按本标准第2.3丒4丒4-2.3丒4.6项规定，分别测试每个输出端,2丒4输出低电平电压乙し,2.4.1 定义,3,GB 6793—86,输入端在施加规定的电平下，使输出端为毓専釆时的电压.,2-4.2测试原理图,匕）L的测试原理图如图4所示,4,2.4.8测试条件,测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:,a.环境温度7a 5,b.电源电压ドccハVcc T,C丒参考电压ヤre”,航差分输入端施加的电压,e 输入端施加的电平,输出端负载电流/。れ,2,2,2,2,2,2,2,2,2,4测试程序,4.4.S,4,4丒6,4丒4",在规定的环境温度Ta下，将被测器件接入测试系统中,.电源端施加规定的电压Pc c +和ダc c ー,参考通道输入端施加规定参考电压匕e f,差分输入端和……
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